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陶瓷粉末粒度分析儀參數

簡要描述:

陶瓷粉(fen)(fen)末粒度分(fen)析(xi)儀適用于水泥、陶瓷、藥(yao)品(pin)、涂料、樹脂(zhi)、染料、顏料、填料、化(hua)工產品(pin)、催(cui)化(hua)劑(ji)、煤(mei)粉(fen)(fen)、泥砂(sha)、粉(fen)(fen)塵(chen)、面粉(fen)(fen)、食品(pin)、添(tian)加劑(ji)、農(nong)藥(yao)、石墨(mo)、感(gan)光材料、燃料、金屬與非金屬粉(fen)(fen)末、碳酸鈣、高嶺土及(ji)其他粉(fen)(fen)體行(xing)業(ye)。

陶瓷粉末粒度分析儀

粒(li)(li)度(du)(du)分布(bu)(bu)是(shi)粉體*的(de)(de)(de)一種性(xing)(xing)質(zhi),也(ye)是(shi)決定粉體行為與屬性(xing)(xing)的(de)(de)(de)重要(yao)物理(li)性(xing)(xing)質(zhi)。因此,在處理(li)粉體時(shi)必須進行粒(li)(li)度(du)(du)分布(bu)(bu)的(de)(de)(de)分析(xi)。常用的(de)(de)(de)粒(li)(li)度(du)(du)分析(xi)儀(yi)(yi)有激光(guang)(guang)粒(li)(li)度(du)(du)分析(xi)儀(yi)(yi)、超聲粒(li)(li)度(du)(du)分析(xi)儀(yi)(yi)、消(xiao)光(guang)(guang)法光(guang)(guang)學沉積儀(yi)(yi)及X射(she)線沉積儀(yi)(yi)等(deng),其中激光(guang)(guang)粒(li)(li)度(du)(du)分析(xi)儀(yi)(yi)測量(liang)方便快捷、重現性(xing)(xing)高(gao),能很好的(de)(de)(de)測出樣品(pin)的(de)(de)(de)粒(li)(li)度(du)(du)分布(bu)(bu)曲線和集中度(du)(du),越(yue)(yue)是(shi)球狀(zhuang)顆粒(li)(li),測量(liang)的(de)(de)(de)越(yue)(yue),因而廣泛(fan)適用于材料、化(hua)工、制藥、精細(xi)陶瓷(ci)、造(zao)紙、化(hua)妝品(pin)、冶(ye)金(jin)等(deng)以顆粒(li)(li)物作為生產原料的(de)(de)(de)行業(ye),以及中間(jian)體的(de)(de)(de)實驗(yan)室分析(xi)和工業(ye)生產中質(zhi)量(liang)控制等(deng)諸(zhu)多領域。

陶瓷(ci)粉(fen)末粒(li)度(du)(du)分(fen)(fen)析儀是真理光學技(ji)術團隊基于(yu)二(er)十(shi)多年粒(li)度(du)(du)表征和應用(yong)經(jing)驗開(kai)發的(de)新(xin)一代粒(li)度(du)(du)分(fen)(fen)析系(xi)統,該系(xi)統加(jia)持多項創新(xin)技(ji)術和,測(ce)量速度(du)(du)高(gao)(gao)達每秒20000次,而且(qie)Hydrolink分(fen)(fen)散進(jin)樣(yang)器更是采(cai)用(yong)了雙電機(ji)驅動,內置高(gao)(gao)效率超(chao)聲,強力攪拌(ban)和離心循(xun)環泵(beng)分(fen)(fen)開(kai)獨立(li)控制(zhi),適用(yong)于(yu)各(ge)種類(lei)型的(de)復雜樣(yang)品(pin)(pin),對于(yu)密度(du)(du)大和分(fen)(fen)布(bu)寬的(de)金(jin)(jin)屬粉(fen)末和硬質合金(jin)(jin)等(deng)樣(yang)品(pin)(pin),也(ye)能輕松(song)分(fen)(fen)散和進(jin)樣(yang)并獲得可靠的(de)高(gao)(gao)重(zhong)現性結果。陶瓷(ci)粉(fen)末粒(li)度(du)(du)分(fen)(fen)析儀適用(yong)于(yu)水泥、陶瓷(ci)、藥品(pin)(pin)、涂料(liao)、樹(shu)脂、染料(liao)、顏料(liao)、填料(liao)、化工產品(pin)(pin)、催化劑(ji)、煤粉(fen)、泥砂、粉(fen)塵、面(mian)粉(fen)、食品(pin)(pin)、添(tian)加(jia)劑(ji)、農藥、石墨、感光材料(liao)、燃料(liao)、金(jin)(jin)屬與(yu)非(fei)金(jin)(jin)屬粉(fen)末、碳酸鈣、高(gao)(gao)嶺土及(ji)其他粉(fen)體行業。

陶瓷粉末粒(li)度(du)分析儀的技術(shu)參數包括(kuo):

項目

指標

測量原理

激光衍射

光學模型

全量程(cheng)米氏理(li)論及(ji)夫朗霍夫理(li)論可選

粒徑范圍

0.02μm -3600μm,無需更換透鏡,不依賴(lai)標樣(yang)校準

檢測系統

包含格(ge)柵式超大角度(du),非均勻交叉面積補償檢測器陣列(lie),全測量角度(du)范圍無盲區(qu)

光源

集成恒(heng)溫系統的638nm, 20mW固體激光器

空間濾波方式

偏振濾波技術

光學對中系統

智能全自動

測量時間

典型值小于10秒

測量速度

20000次/秒

Dv50優于±0.6% (NIST可溯(su)源乳膠(jiao)標樣)

重復性

Dv50優于±0.5% (NIST可(ke)溯源乳膠標樣)

激光安全

1類激光產品

計算機配置

In i5處理器(qi),4GB內存,250GB硬(ying)盤,鼠標,鍵盤和寬屏(ping)顯示器(qi)

計算機接口

USB2.0

軟件運行平臺

Windows 7版(ban)或以上(shang)版(ban)

操作環境溫度

5℃ - 40℃

操作環境濕度

10% - 85%相對濕度(無(wu)結凝)

電源要求

交流220V, 50Hz – 60Hz, 標準接地

光學系統重量

26kg

光學系統尺寸

636mm x275mm x320mm

聯系方式
  • 電話

    0756-8629811

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