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激光粒度分析儀

簡要描述:

LT2200E是真理光(guang)學基(ji)于多(duo)年的科研(yan)成果開發的新一代超高速智(zhi)能(neng)激光(guang)粒度分析(xi)系統,其多(duo)項技術性能(neng)和指標(biao)均超過當前激光(guang)粒度儀的水平,成為當今粒度儀市場具有性價比的產品之一。

LT2200E激光粒度分析儀加持了以(yi)下多項創新和(he)技術:

◆ 偏振濾波技術

◆ 衍射愛(ai)里斑反常變(bian)化(ACAD)的(de)補償修正技(ji)術

◆ 斜入(ru)射(she)反傅(fu)里葉光路配置

◆ 格柵(zha)式大角度檢測陣列技術

◆ 粒(li)度分析模式優化(hua)及(ji)自適應技術

◆ 連續液位(wei)感知及(ji)控制技術

◆ 高靈敏度(du)光能(neng)跟(gen)蹤及穩(wen)定(ding)技(ji)術(shu)

 

LT2200E光學測量系統的性能還包括:

◆ 符合ISO13320衍射法測量(liang)技術(shu)標準

◆ *的光路配置,超大連續的物理測量角度
◆ 改進型反演算法,用戶無需選擇“分析模式”,兼顧的分辨率和穩定性
◆ 無需更換透鏡,無需使用標準樣校準,量程范圍達到0.1微米至1200微米
◆ 實時測量頻率高達每秒2000Hz,不漏檢任何形狀和分布顆粒的衍射信息
◆ 采用自動溫度恒定技術的超高穩定固體激光光源系統,克服了氦氖氣體激光器預熱時間長,使用壽命短的缺點
◆ 采用偏振空間濾(lv)波技術(shu),摒棄(qi)導致機(ji)械和熱穩定性差的(de)針孔(kong)濾(lv)波器

 

 

激光粒度分析儀技術參數:

 

項目

 

指標

     

測量原理

 

激光衍射

光學模型

 

全量程米氏(shi)理(li)論及夫(fu)朗霍夫(fu)理(li)論可選

粒徑范圍

 

0.1μm-1200μm,無需更換透鏡,不依賴標樣校(xiao)準

檢測系統

 

包含格(ge)柵式(shi)超大角(jiao)度,非均勻交叉面(mian)積補(bu)償檢測器陣列

測量池

光源

 

平行斜置

集成恒溫系統的(de)638nm,高20mW固體激(ji)光器(qi)

空間濾波方式

 

非(fei)針孔(kong)式偏(pian)振濾(lv)波技(ji)術

光學對中系統

 

智能全自動

測量時間

 

典型值小于10秒

測量速度

 

2000次/秒

 

Dv50優于±0.6% (NIST可溯源(yuan)乳膠標(biao)樣)

重復性

 

Dv50優(you)于±0.5% (NIST可溯(su)源乳膠標樣(yang))

激光安全

 

1類激光產品

     

計算機配置

 

In i5處理器(qi),4GB內存,250GB硬(ying)盤(pan),鼠標,鍵盤(pan)和寬屏顯示器(qi)

計算機接口

 

USB2.0或以上

軟件運行平臺

 

Windows7或以上版

操作環境溫度

 

5℃-40℃

操作環境濕度

 

10%-85%相對濕度(無結(jie)凝)

電源要求

 

交流(liu)220V,50Hz-60Hz,標準接地(di)

     

光學系統重量

 

30kg

光學系統尺寸

 

670mm x 275mm x 320mm

聯系方式
  • 電話

    0756-8629811

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